各位行業(yè)的朋友們都知道AOI(Auto Optical Inspection)光學(xué)檢測(cè)系統(tǒng)已被普遍應(yīng)用在電子行業(yè)的SMT貼片加工生產(chǎn)線，以取代以往的人工目檢作業(yè)。AOI利用影像技術(shù)用以比對(duì)待測(cè)物與標(biāo)準(zhǔn)影像是否有過大的差異來判斷待測(cè)物有否符合標(biāo)準(zhǔn)。

早期的時(shí)候AOI大多被拿來檢測(cè)IC(積體電路)封裝后的表面印刷是否有缺陷，隨著技術(shù)的演進(jìn)，現(xiàn)在則被拿來用在SMT組裝線上檢測(cè)電路板上的零件組裝(PCBA ssembly)后的品質(zhì)狀況，或是檢查錫膏印刷后有否符合標(biāo)準(zhǔn)。

AOI光學(xué)檢測(cè)

AOI主要的優(yōu)點(diǎn)就是可以取代以前SMT爐前爐后的人工目檢作業(yè)，而且可以比人眼更的判斷出SMT的打件組裝缺點(diǎn)。但就如同人眼一般，AOI基本上也僅能執(zhí)行物件的表面檢查，所以只要是物件表面上可以看得到的形狀，它都可以正確無誤的檢查出來，但對(duì)于藏在零件底下或是零件邊緣的焊點(diǎn)可能就有些力有未逮，當(dāng)然現(xiàn)在有許多的AOI已經(jīng)可以作到多角度的攝影來增加其對(duì)于IC腳翹的檢出能力，并增加某些被遮閉元件的攝影角度，以提供更多的檢出率，但效果總是不盡理想，難以達(dá)到100％的測(cè)試含蓋率。

其實(shí)，AOI主要的缺點(diǎn)是有些灰階或是陰影明暗不是很明顯的地方，也就比較容易出現(xiàn)誤判的情況，這些或許可以使用不同顏色的燈光來加以判別，但更麻煩的還是那些被其他零件遮蓋到的元件以及位于元件底下的焊點(diǎn)，因?yàn)閭鹘y(tǒng)的AOI只能檢測(cè)直射光線所能到達(dá)的地方，像是屏閉框肋條或是其邊緣底下的元件，往往就會(huì)因?yàn)锳OI檢測(cè)不到而漏了過去。

所以一般的電路板組裝生產(chǎn)線，不僅使用AOI來確保其組裝品質(zhì)，通常還得經(jīng)過ICT(In-CircuitTest)以及功能測(cè)試(FVT)檢測(cè)，有些產(chǎn)線還會(huì)在多加一臺(tái)AXI(AutomaticX-rayInspection)，利用X-Ray來隨線檢查元件底下焊點(diǎn)(如BGA)的品質(zhì)。

另外，由于光學(xué)檢查受制于光線、角度、解析度等因素，所以下列這些缺點(diǎn)只有在某些條件之下才可以檢查出來，但比較難以達(dá)到全部的檢出率。

如果是形狀不一樣的錯(cuò)件，或是表面有不同印刷的零件，AOI應(yīng)該也可以檢查出來。但如果外觀沒有明顯不同，也沒有表面印刷，比如說0402尺寸以下的電阻及電容，這些就很難利用AOI來檢出。

這點(diǎn)也必須取決于零件本身有否標(biāo)示零件極性的符號(hào)，或是外觀形狀的差異才可以執(zhí)行。

嚴(yán)重的腳翹可以經(jīng)由光線反射的明暗不同的判斷出來，但輕微腳翹可以就有些困難。嚴(yán)重的腳變形也可以很容易的使用AOI來檢測(cè)，輕微的腳翹則必需要視情況而定，這通常取決于參數(shù)調(diào)整的嚴(yán)格與否，更取決于工程師或操作員的經(jīng)驗(yàn)值。

一般來說錫橋很容易檢查得出來，但如果是藏在零件底下的錫橋就很難發(fā)現(xiàn)了。像有些連接器的錫橋都發(fā)生在元件本體的底部，這時(shí)候使用AOI就沒有辦法檢測(cè)出來。

錫量嚴(yán)重不足時(shí)當(dāng)然可以使用AOI輕易的判斷，但是錫膏量印刷的多寡總會(huì)有些誤差，這時(shí)候就需要收集一定數(shù)量的產(chǎn)品來判斷的多寡。